1.HALT測(cè)試介紹：

HALT (Highly Accelerated Life Test)高加速壽命試驗(yàn)---是一種用于發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品的薄弱點(diǎn)或缺陷，通過(guò)設(shè)計(jì)改進(jìn)，提高可靠性的試驗(yàn)手段。其核心是采用步進(jìn)方式，逐漸增大試驗(yàn)應(yīng)力，逐步發(fā)現(xiàn)與排除缺陷，達(dá)到快速提高可靠性的目的。

2.HALT測(cè)試原理：

每個(gè)產(chǎn)品都是獨(dú)立的，由于各種因素的影響，即使同一型號(hào)產(chǎn)品的強(qiáng)度也是有差異的，其強(qiáng)度表現(xiàn)為某種統(tǒng)計(jì)分布。同樣產(chǎn)品其承受的應(yīng)力也是變化的，應(yīng)力也表現(xiàn)為某種統(tǒng)計(jì)分布。在產(chǎn)品強(qiáng)度與應(yīng)力重疊的部分（圖中陰影部分），即對(duì)產(chǎn)品施加的應(yīng)力超過(guò)產(chǎn)品的強(qiáng)度，產(chǎn)品就會(huì)發(fā)生故障。

3.HALT測(cè)試流程：

測(cè)試前期準(zhǔn)備工作-低溫步進(jìn)應(yīng)力試驗(yàn)-高溫步進(jìn)應(yīng)力試驗(yàn)-快速溫變循環(huán)試驗(yàn)-振動(dòng)步進(jìn)應(yīng)力試驗(yàn)-綜合環(huán)境應(yīng)力試驗(yàn)-故障分析-回歸驗(yàn)證；

試驗(yàn)前的準(zhǔn)備工作以及五個(gè)試驗(yàn)項(xiàng)目的詳細(xì)實(shí)施方法可參考GB/T 29309-2012 《電工電子產(chǎn)品加速應(yīng)力試驗(yàn)規(guī)程高加速壽命試驗(yàn)導(dǎo)則》進(jìn)行試驗(yàn)。HALT試驗(yàn)對(duì)產(chǎn)品施加的應(yīng)力主要是溫度和振動(dòng)應(yīng)力，也可考慮施加濕度等常見環(huán)境應(yīng)力。除此之外，還要考慮在HALT期間可以向產(chǎn)品施加的所有可能的應(yīng)力，比如可以考慮通電循環(huán)、電壓變化、頻率變化、電流等可以激發(fā)產(chǎn)品相關(guān)設(shè)計(jì)或工藝問(wèn)題的應(yīng)力。

4.HALT測(cè)試范圍：

溫度范圍：-100℃~200℃

溫度變化速率：液氮制冷，溫變速率不低于60℃/min

振動(dòng)：三軸六自由反復(fù)沖擊振動(dòng)，頻率范圍0~10000Hz，最大均方根值可達(dá)100g